Напилення та фізичні властивості тонких плівок на основі Cu6PS5I

Анотація.

Тонкі плівки на основі Cu6PS5I були нанесені на підкладинки з силікатного скла методом нереактивного радіочастотного магнетронного розпилення. Хімічний склад тонких плівок визначався за допомогою енергодисперсійної рентгенівської спектроскопії. Електрична провідність тонких плівок на основі Cu6PS5I вивчалася в залежності від хімічного складу. Спектри оптичного пропускання тонких плівок на основі Cu6PS5I досліджувалися в інтервалі температур 77–300 К. Спектри краю поглинання та дисперсійні залежності показників заломлення визначалися за спектрами оптичного пропускання. Зміни основних параметрів урбахівського краю поглинання та електрон-фононної взаємодії проаналізовані в залежності від вмісту Cu в тонких плівках на основі Cu6PS5I

Ключові слова: тонкі плівки, магнетронне напилення, електрична провідність, оптичне поглинання, показник заломлення

10.24144/2415-8038.2016.40.72-79