Оптические параметры облученных рентгеновским излучением тонких пленок Cu7GeS5I

Анотація.

Тонкие пленки на основе Cu6PS5I были нанесены на подложки из силикатного стекла методом нереактивного радиочастотного магнетронного распыления. Спектры оптического пропускания облученных рентгеновским излучением тонких пленок Cu7GeS5I изучались в зависимости от времени облучения. С увеличением времени излучения наблюдается красное смещение кратковолновой части спектра поглощения, а максимумов интерференции. Исследованы урбаховский край оптического поглощения и дисперсия показателя преломления облученных рентгеновским излучением тонких пленок Cu7GeS5I. Под воздействием рентгеновского излучения энергетическое положение края поглощения уменьшается, тогда как энергия Урбаха и показатель преломления возрастает. Проанализировано влияние рентгеновского излучения на оптические параметры и процессы разупорядочения в тонких пленках Cu7GeS5I

Ключові слова: тонкие пленки, магнетронное распыление, рентгеновское излучение, оптическое поглощение, показатель преломления

10.24144/2415-8038.2016.39.51-56