Одночастичный подход к проблеме С2-фрагментации ионов фуллерена С60q+ (q = 1, 2, 3) электронным ударом

Аннотация.

В данной работе оценена возможность объяснения C2-фрагментации ионов фуллерена C60q+ (q = 1, 2, 3) электронным ударом в рамках „одночастичного” подхода, на основе расчетов сечений рассеяния е − C. При этом сечения прямой ионизации вычислялись по формуле Лотца для оболочек 2p, 2s и двойной ионизации из 2p-оболочки. Суммарное сечение возбуждения из основного состояния углерода 2s22p2 3P в 27 выше расположенных состояний было рассчитано методом R-матрицы с B-сплайнами

Ключевые слова: C2-фрагментация, ионы фуллерена C60q+, атом углерода, рассеяние электронов, метод R-матрицы с B-сплайнами, сечения рассеяния

10.24144/2415-8038.2016.39.120-127